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TDK電容的容量和耗散因數(shù)測試是電路設(shè)計(jì)中非常重要的一步。在進(jìn)行精確的測試時(shí),合理的儀表設(shè)置可以極大地影響測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。本文河南TDK總代理智成電子小編將介紹TDK電容的容量和耗散因數(shù)測試的關(guān)鍵在于儀表設(shè)置,并探討如何實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)的測試。
正確測量電容値和耗散因數(shù)的關(guān)鍵是儀表設(shè)置(表1)。
類別類型 | 電容量 | 頻率 | 電壓 |
---|---|---|---|
Class I | 1,000pF and under | 1MHz ± 10% | 0.5 ~ 5 Vrms |
Over 1,000pF | 1kHz ± 10% | ||
Class II | 10uF and under | 1kHz ± 10% | 1.0 ± 0.2 Vrms |
Over 10uF | 120Hz ± 20% | 0.5 ± 0.2 Vrms |
表1:不同電容量范圍和類別類型的頻率和電壓設(shè)置
電壓設(shè)置對(duì)于高容値電容器來說是非常重要的。對(duì)于有些電容器儀表,對(duì)測試部件的印加電壓不足,因此電容値讀數(shù)偏低。
頻率設(shè)置也十分重要。由于電容量隨頻率而變化,行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)指定了1MHz、1kHz或120Hz(表1)的測試頻率。
了解EIA class II電容器的老化現(xiàn)象也很重要。對(duì)于class II材料,電容量隨時(shí)間推移而減少1。因此,已接受的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定自上次加熱后1000小時(shí)電容量應(yīng)處于偏差范圍內(nèi)(TOLH)2。
正確的儀表設(shè)置對(duì)于TDK電容的容量和耗散因數(shù)測試來說至關(guān)重要。在選擇和使用測試工具時(shí),我們應(yīng)該注重它們的準(zhǔn)確性、精度和可靠性,以確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可信度。而在購買TDK電容時(shí),我們也應(yīng)該選擇可靠的供應(yīng)商,從源頭上保證電容的質(zhì)量和性能。相信在正確的儀表設(shè)置和優(yōu)質(zhì)的電容選擇下,您一定能夠在電路設(shè)計(jì)和應(yīng)用中發(fā)揮出TDK電容的最佳性能,為您的工程帶來更多的價(jià)值和成就。
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